物鏡是顯微鏡zui重要的光學(xué)部件，利用光線使被檢物體*次成象，因而直接關(guān)系和影響成象的質(zhì)量和各項光學(xué)技術(shù)參數(shù)，是衡量一臺顯微鏡質(zhì)量的首要標(biāo)準(zhǔn)。

     物鏡的結(jié)構(gòu)復(fù)雜，制作精密，由于對象差的校正，金屬的物鏡筒內(nèi)由相隔一定距離并被固定的透鏡組組合而成。物鏡有許多具體的要求，如合軸，齊焦。

      齊焦既是在鏡檢時，當(dāng)用某一倍率的物鏡觀察圖象清晰后，在轉(zhuǎn)換另一倍率的物鏡時，其成象亦應(yīng)基本清晰，而且象的中心偏離也應(yīng)該在一定的范圍內(nèi)，也就是合軸程度。齊焦性能的優(yōu)劣和合軸程度的高低是顯微鏡質(zhì)量的一個重要標(biāo)志，它是與物鏡的本身質(zhì)量和物鏡轉(zhuǎn)換器的精度有關(guān)。

一、物鏡的種類

物鏡的種類很多，可從不同的角度分類，現(xiàn)分類介紹。

根據(jù)物鏡相差校正的程度進(jìn)行分類，可分為：

（一）消色差物鏡（Achromatic objective）

這是常見的物鏡，外殼上常有“Ach”字樣。這類物鏡僅能校正軸上點(diǎn)的位置色差（紅，藍(lán)二色）和球差（黃綠光）以及消除近軸點(diǎn)慧差。不能校正其它色光的色差和球差，且場曲很大。

（二）復(fù)消色差物鏡（Apochromatic objective）

復(fù)消色差物鏡的結(jié)構(gòu)復(fù)雜，透鏡采用了特種玻璃或螢石等材料制作而成，物鏡的外殼上標(biāo)有"Apo" 字樣 ，這種物鏡不僅能校正紅綠藍(lán)三色光的色差，同時能校正紅，藍(lán)二色光的球差。由于對各種相差的校正極為完善，比響應(yīng)倍率的消色差物鏡有更大的數(shù)值孔徑，這樣不僅分辨率高，象質(zhì)量優(yōu)而且也有更高的有效放大率。因此，復(fù)消色差物鏡的性能很高，適用于研究鏡檢和顯微照相。

（三）半復(fù)消色差物鏡（ Semi apochromatic objedtive）

半復(fù)消色差物鏡又稱氟石物鏡，物鏡，物鏡的外殼上標(biāo)有“FL”字樣，在結(jié)構(gòu)上透鏡的數(shù)目比消色差物鏡多，比負(fù)消色差物鏡少，成象質(zhì)量上，遠(yuǎn)較消色差物鏡為好，接近于復(fù)消色差物鏡。平場物鏡是在物鏡的透鏡系統(tǒng)中增加一快半月形的厚透鏡，以達(dá)到校正場曲的缺陷。平場物鏡的視場平坦，更適用于鏡檢和顯微照象。

（四）特種物鏡

所謂“特種物鏡”是在上述物鏡的基礎(chǔ)上，專門為達(dá)到某些特定的觀察效果而設(shè)計制造的。主要有以下幾種：

1、帶校正環(huán)物鏡（Correction collar objective）：

在物鏡的中部裝有環(huán)裝的調(diào)節(jié)環(huán)，當(dāng)轉(zhuǎn)動調(diào)節(jié)環(huán)時，可調(diào)節(jié)物鏡內(nèi)透鏡組之間的距離，從而校正由蓋玻片厚度不標(biāo)準(zhǔn)引起的覆蓋差。調(diào)節(jié)環(huán)上的刻度可從0 .11－.023，在物鏡的外殼上也標(biāo)科有此數(shù)字，表明可校正蓋玻片從0.11－0.23mm厚度之間的誤差。

2、帶虹彩光闌的物鏡（Iris diaphragm objective ）：　

在物鏡鏡筒內(nèi)的上部裝有虹彩光闌，外方也可以旋轉(zhuǎn)的調(diào)節(jié)環(huán)，轉(zhuǎn)動時可調(diào)節(jié)光闌孔徑的大小，這種結(jié)構(gòu)的物鏡是的油浸物鏡，它的作用是在暗視場鏡檢時，往往由于某些原因而使照明光線進(jìn)入物鏡，使視場背景不夠黑暗，造成鏡檢質(zhì)量的下降。這時調(diào)節(jié)光闌的大小，使背景變黑，使被檢物體更明亮，增強(qiáng)鏡檢效果。

3、相襯物鏡（Phase contrast objective ）：

這種物鏡是由于相襯鏡檢術(shù)的物鏡，其特點(diǎn)是在物鏡的后焦平面處裝有相板。

4、無罩物鏡（No cover objective ）：有些被檢物體，如涂抹制片等，上面不能加用蓋玻片，這樣在鏡檢時應(yīng)使用無罩物鏡，否則圖象質(zhì)量將明顯下降，特別是在高倍鏡檢時更為明顯。這種物鏡的外殼上常標(biāo)刻ＮＣ，同時在蓋玻片厚度的位置上沒有０.17的字樣，而標(biāo)刻著“０”。

5、長工作距離物鏡：這種物鏡是倒置顯微鏡的物鏡，它是為了滿足組織培養(yǎng)，懸浮液等材料的鏡檢而設(shè)計。